产品详情
简单介绍：
9.9成新 销售美国泰克TDS2024C 数字存储示波器
李生 13527993916
TDS2024C拥有200MHz的带宽,2.0GS/s的采样率,2.5k记录长度,4个通道.
16 种自动测量及FFT 分析，简化波形分析
内置波形极限测试
详情介绍：
9.9成新 销售美国泰克TDS2024C 数字存储示波器
李生 13527993916
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李生 13527993916
联系人：何经理13929231880
李生 13527993916
QQ在线：2880196033
电 话 ：0769-81283426
传 真 ：0769-82553292
E-MAIL：qihangyiqi@126.com
公司网址http://www.qihang17.com
地址：东莞市塘厦镇塘龙东路63号
24小时免费专线:400 0769 832
TDS2024C拥有200MHz的带宽,2.0GS/s的采样率,2.5k记录长度,4个通道.
16 种自动测量及FFT 分析，简化波形分析
内置波形极限测试
自动化扩展数据记录功能
自动设置和信号自动量程
Tektronix TDS2024C内置上下文相关帮助
TDS2024C探头检查向导
多语言用户界面
5.7 英寸(144 毫米)有源TFT 彩色显示器
Tektronix TDS2024C体积小，重量轻：深仅4.9 英寸(124 毫米)，重仅4.4 磅(2 公斤)
示波器型号 TDS2001C TDS2002C TDS2004C TDS2012C TDS2014C TDS2022C TDS2024C
显示器 (QVGA LCD) TFT TFT TFT TFT TFT TFT TFT
带宽*3 50 MHz 70 MHz 70 MHz 100 MHz 100 MHz 200 MHz 200 MHz
通道数量 2 2 4 2 4 2 4
外部触发输入 所有型号均包括
每条通道上采样率 500 MS/s 1.0 GS/s 1.0 GS/s 2.0 GS/s 2.0 GS/s 2.0 GS/s 2.0 GS/s
记录长度 记录长度所有型号所有时基上2.5k 点
垂直分辨率 8 bits
垂直灵敏度 校准后微调时，所有型号2 mV - 5 V/div
DC 垂直精度 所有型号上± 3%
垂直缩放 垂直扩展或压缩实时波形或停止的波形
*大输入 300VRMS CAT II; 在超过100 kHz 时额定值以20 dB/10 Hz 下降, 在3 MHz 时为13Vpk-pk AC
位置范围 2 mV - 200 mV/div +2 V
>200 mV - 5 V/div +50 V
带宽限制 所有型号为20 MHz
输入耦合 所有型号上AC, DC, GND
输入阻抗 1 MΩ 并联, 20pF
时基范围 5 ns - 50 s/div 5 ns - 50 s/div 5 ns - 50 s/div 2.5 ns - 50 s/div 2.5 ns - 50 s/div 2.5 ns - 50 s/div 2.5 ns - 50 s/div
时基精度 50 ppm
水平缩放 水平扩展或折叠活动的波形或停止的波形
I/O 接口
USB 端口 前面板上的USB 主机端口支持USB 闪存驱动器
仪器背面的USB 设备端口支持连接PC 及兼容PictBridge 的所有打印机
GPIB 可选
非易失性存储器
参考波形显示 (2)个2.5 K 点参考波形
没有USB 闪存驱动器时的波形存储 (2) 2.5k 点 (2) 2.5k 点 (4) 2.5k 点 (2) 2.5k 点 (4) 2.5k 点 (2) 2.5k 点 (4) 2.5k 点
*大USB 闪存驱动器容量 64 GB
带有USB 闪存驱动器时的波形 存储波形存储 每8 MB 96 个以上参考波形
没有USB 闪存驱动器时的设置 10 个前面板设置
带有USB 闪存驱动器时的设置 每8 MB 4000 个以上前面板设置
带有USB 闪存驱动器的屏幕图 每8 MB 128 个以上屏幕图 (图像数量取决于选择的格式)
带有USB 闪存驱动器时全部保存 每8 MB 12 个以上的全部保存操作
一个全部保存操作会创建3-9 个文件(设置, 图像, 外加显示的每个波形一个文件) TDS2024C
采集模式
峰值检测－捕获高频随机毛刺。在5 μs/div- 50 s/div的所有
时基设置上，使用采集硬件捕获*窄12 ns (典型值)的毛刺。
采样－ 只采样数据。
平均－平均波形, 可以选择: 4, 16, 64, 128。
单一顺序－使用Single Sequence (单一顺序)按钮，一次捕获
一个触发的采集顺序。
滚动模式－在>100 ms/div的所有采集时基设置上。
触发系统
触发模式－自动触发, 正常触发, 单一顺序触发。
触发类型
边沿 (上升沿/下降沿) －
电平驱动的传统触发。任意通道上正斜率或负斜率。耦合选择:
AC, DC, 噪声抑制, 高频抑制, 低频抑制。
视频－触发所有行或各个行, 合成视频中的奇数/偶数场或所有
场, 或广播制式(NTSC, PAL, SECAM)。
脉宽 (或毛刺) －触发小于、大于、等于或不等于可以选择的、
范围在33 ns到10 s之间的时间极限。
触发源
CH1, CH2, Ext, Ext/5, AC线路。
触发视图
在按下Trigger view(触发视图)按钮时，显示触发信号。
触发信号频率读数
提供触发源的频率读数。
光标
类型 － 幅度, 时间。
测量－ [Δ]T, 1[Δ]T (频率), [Δ]V。
自动波形测量
周期, 频率, +宽度, -宽度, 上升时间, 下降时间, *大值, *小值, 峰
峰值, 中间值, 周期RMS，RMS，光标RMS，占空比，相位，延迟。
波形数**算
运算符－
加, 减, 乘, FFT。FFT－
窗口, Hanning, 平顶, 矩形, 2048个样点。
来源 －CH1-CH2, CH2-CH1, CH1+CH2, CH1xCH2。
自动设置菜单
单键自动设置所有通道的垂直系统、水平系统和触发系统，自
动设置支持撤销操作功能。
信号类型自动设置菜单选项
方波单周期, 多周期, 上升沿或下降沿
正弦波单周期, 多周期, FFT频谱
视频(NTSC,场：全部, 奇数或偶数
PAL, SECAM)行：所有行或选择行号
自动量程
在点到点移动探头或在信号表现出较大变化时，自动调节垂直
和/或水平示波器设置。
泰克示波器由TDS1001B-SC升级为TDS1001C-SC.
具体参数区别如下：
一、显示器:更宽的视角,有源TFT彩色显示器。
二、增加5种自动测量功能，总计16种测量外加频率计数器。
三、增加极限测试,增加数据记录功能。
四、全新探头设计，由以前的P2220改成TPP0101。
1、降低电路负荷
☆这一般是客户提出的**位要求
☆输入电容仅12pF (P2220在10x下为16pF)，探头负载降低了25%
☆在100美元以下的无源探头市场中，这一负荷是*低的
2、体积小
☆更加流线化的设计(3.8mm探头头部，而P2220为5mm)TDS2024C
☆可以在紧张的空间中进行探测，更好地查看被测点
☆在100美元以下的无源探头市场中，这一体积是*小的
安捷伦科技，其*新版本的旗舰射频和微波仿真平台的设计，先进的设计系统2011。
新平台将**在Youtube和“**在EDA”直播微波学报，定于三月一日。先进设计系统
2011提供新的和现有的先进设计系统用户激动人心的新功能，包括电磁技术的速度更
快，更准确的模拟；新的使用模型，使电磁仿真容易的所有工程师；和更容易的物理设
计布局的改进。先进设计系统2011还具有新的功能和设计提升平台的功能和可用性的改
进几十。TDS2024C
也被介绍今天是多技术有限公司设计的先进设计系统2011的突破能力，这样在包装设计在
RF模块和系统固有的。有了这个能力，先进的设计系统2011成为业界**个也是**的真
正的多工艺设计环境。使用它，工程师可以做如下：设计个性化的RF和微波集成电路具有不
同的技术（例如，砷化镓，锗，GaN，以及硅CMOS）。组装这些集成电路封装或层压。
模拟多个集成电路，层压板和安捷伦业界**的模拟技术包（例如，电路模拟器，动量和有
限元电磁仿真器，仿真器和托勒密与标准兼容的无线库的性能验证）。发现键合线的三维电
磁相互作用，焊锡球，包，包括在集成电路的痕迹和螺旋电感和层压板。设计工作时，隔离
可能经历的电磁相互作用，安装时，包装，翻转，并放置在板或印刷电路板。这是当工程师
们经常看到，为**次，螺旋电感互感的影响，非理想的接地平面/路径，通过放置，和复杂
的布线间的相互作用。先进设计系统功能2011功能，帮助发现和解决在设计过程的早期的集
成问题，在喜欢的功率放大器和射频前端模块的无线部件制造。它还提供了工程师设计的多个
射频和微波集成电路的能力（的各种技术实现），将它们组装在包装或在多层叠层，并模拟在
一个单一的平台电气和三维电磁性能。在一起，这些功能代表了电子设计自动化中的一个重大
突破。采用先进的设计系统2011，设计验证不再需要停止在边界的一个单一的集成电路或模块
的技术。TDS2024C
以先进的设计系统的主要特点2011可用的细节在安捷伦EEsof EDA先进设计系统2011网站是可用
的。先进的设计系统2011的一张照片是在www.agilent.com/find/ads2011_images.videos突出新的
先进设计系统2011个功能可在安捷伦EEsof的YouTube网站。另外，微波学报将提出一个**的EDA”
直播的标题，“广告中使用的新进展2011多技术射频设计，“世界在三月一日。看到安捷伦的*新设
计和测试**的先进的射频和微波的研究，六月7-9日在2011 IEEE MTT-S国际微波研讨会，开发和制
造，在巴尔的摩会展中心，展位813。加入安捷伦安捷伦大道和其合作伙伴将专家在行业的领导专家。