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综合测试仪主要特征

日期:2024-04-25 12:59
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摘要: 综合测试仪主要特征: 1.综合测试仪测试频率20HZ-200KHZ/1MHZ,**度0.02% 2.基本量测准确度:0.1% 3.3种阻抗输出模式选择,量测结果与各家知名厂牌的LCR表完全比对 4.增强式圈数比准确量测,适用于低磁导率的磁芯 5.高速LCR量测,*快80次/秒 6.综合测试仪高速DCR测量,*快50次/秒 7.1320-20A偏压电流源直流控制功能(仅适用于3252/3302) 8.大型LCD显示(320*240点矩阵 ) 9.提供各式标准测试治具及特殊治具订制 10.综合测试仪四端测试治具,可得到DC树比的**且稳定的测量 11.内建测试治具,10级分类及计数功能(仅适用于...
 综合测试仪主要特征:
1.综合测试仪测试频率20HZ-200KHZ/1MHZ,**度0.02%
2.基本量测准确度:0.1%
3.3种阻抗输出模式选择,量测结果与各家知名厂牌的LCR表完全比对
4.增强式圈数比准确量测,适用于低磁导率的磁芯
5.高速LCR量测,*快80次/秒
6.综合测试仪高速DCR测量,*快50次/秒
7.1320-20A偏压电流源直流控制功能(仅适用于3252/3302)
8.大型LCD显示(320*240点矩阵 )
9.提供各式标准测试治具及特殊治具订制
10.综合测试仪四端测试治具,可得到DC树比的**且稳定的测量
11.内建测试治具,10级分类及计数功能(仅适用于3250/3302)
12.2M SRAM记忆卡供机台资料设定及备份
13.综合测试仪标准RS--232\HANDLER及PRINTER界面
14.50组内部仪器设定可供储存及呼叫

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